高溫壓電系數(shù)d33測試儀采用FPGA數(shù)字技術(shù),為激振器提供高度穩(wěn)定的測試頻率,激振器作為核心振源,確保了信號源的精準與可靠。華測儀器在弱信號采集技術(shù)方面的深厚積累,高溫壓電系數(shù)d33測試儀實現(xiàn)了在高溫環(huán)境下對壓電系數(shù)的高精度測量,顯著提升了系統(tǒng)的信噪比與穩(wěn)定性。
相較于傳統(tǒng)d33測量儀,本設(shè)備在多項性能指標上實現(xiàn)重要突破:不僅測量精度高、量程寬,還具有較強的可靠性和簡便的操作體驗。它能夠直接分析并生成樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖,為材料性能研究提供直觀的數(shù)據(jù)支持
技術(shù)參數(shù):
● 壓電陶瓷研究:測試鋯鈦酸鉛(PZT)、氧化鋯(ZrO2)、氧化鈮(Nb2O5)等壓電陶瓷材料在高溫下的壓電性能變化
● 高分子壓電材料研究:測試聚偏氟乙烯(PVDF)等高分子壓電材料在高溫下的性能穩(wěn)定性
● 鐵電材料研究:通過測量不同溫度下的電學性質(zhì)數(shù)據(jù),研究鐵電材料的相變行為和電學性能
應(yīng)用領(lǐng)域:
● 溫度范圍:RT~650℃
● 測試頻率:30Hz-140Hz(可調(diào))
● 測試載荷:靜態(tài)力10N,振蕩測試載荷0.05N-0.5N(可調(diào))
● 電容測量范圍:10pF-0.1μF
● 溫度穩(wěn)定度:±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
● 電荷分辨率:高達0.01pC/N
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